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国際粉体工業展東京2012 報告

今年前半までの日本の産業界は、円高の影響などにより研究用機器や品質管理用機器の新規及び更新導入に厳しい環境が続いていましたが、今回の国際粉体展ではご購入を前提に機器性能の確認のために来場された方が多数いらっしゃいました。弊社のフラッグシップである粒子数のカウントが可能な粒度分布測定装置Multisizer 4の実機を初めてご覧になるお客様も多く、その性能に驚かれていました。
また、粒度分布測定装置の分析法としてシングルナノ粒子の解析が可能な超遠心沈降法にご興味をお持ちのお客様が大変多く、その理論、ハードウエアの特長など熱心に質問されてました。
あっというまに3日間の展示が終了いたしましたが昨年にまして大変密度の高いお客様とのコミニュケーションの場となりました。
ご来場いただきましたお客様へ心より感謝申し上げます。

国際粉体工業展東京2012

  • 日  時
  • 2012年11月28日(水)  10:00〜18:00
    29日(木)  10:00〜18:00
    30日(金)  10:00〜17:00
  • 会  場
  • 東京ビッグサイト 東1・2・3ホール  MAP
  • 出展製品
    • 精密粒度分布測定装置 Multisizer 4
    • 「ナノ粒子中の凝集粒子や異物を定量測定」
    • 測定範囲:0.4μm〜1,600μm
    • レーザ回折散乱法粒度分布測定装置 LS 13 320
    • 「新PIDS理論でナノ領域を正確に測定」
    • 測定範囲:0.017μm〜2,000μm
    • 高感度 ゼータ電位 粒度分布測定装置 DelsaNano HC
    • 「高感度でナノバブル、金属コロイドに対応」
    • 測定範囲:0.6nm〜7μm ±200mV
    • ナノ粒子遠心分離装置 Optima MAX-XP
    • 「1,000,000gを超える遠心力で、ナノ粒子を精製・濃縮」


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